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1、TEM Cell横向电波室测试：判定芯片噪声的放射等级，提供芯片稳定性的有效数据，对产品质量及技术性能做把关。
2、Near Field Scanner近场扫描量测：以极高空间分辨率的芯片等级近场探棒，与高精密度的移动手臂，量测噪声强度分布范围，可完全透视芯片/PCB表面电磁辐射干扰确切位置。
