系统级静电放电模式 (System ESD Test–ESD GUN TEST)

EOS/ESD造成的客退情形不曾间断，IC过电压承受能力较低，产品就有损坏风险。对成品厂商而言，除了要求IC供货商测试到所要求的ESD防护等级，对于所选用的IC，其承受EOS的能力也更加关注。

System ESD参考规范

HBM (Human Body Mode)

AECQ ：AEC-Q200-002

Other：IEC61000-4-2

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