比表面孔径测定仪
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JW-BK132F
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比表面孔径测定仪
详细信息与技术指标
功能应用范围：表面积测定：BFT比表面,Langmuir比表面、外表面测定 BJH孔径分布测定：总孔径、平均孔径、孔容/孔径的微分与积分分布
主要技术指标：
一、技术参数
1.测量范围0.01m2/g-3500m2/g；
2.重复性：优于+-3%；
3.基线稳定线：半小时基线漂移不大于0.1mv，噪声不大于0.05mv；
4.要求气体纯度： 吸附质-氮气，纯度99.99%以上； 载气-氦气，纯度99.99%以上，或氢气，纯度99.99%以上。
5.仪器供电电源：交流电220V+-10%，电流频率50Hz，功率不大于200瓦。
6.仪器体积：800*400*680mm；重量50kg；
7.采样频率：100Hz；
8.最小峰宽：0.1min；
9.最低峰高检测限：20uV。
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