超声波扫瞄 (SAT 检测)
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超声波扫瞄 (SAT 检测)
SAT超声波可用来检测芯片组件内部不同位置的脱层(Delaminaiton)、裂缝(Crack)、气洞及粘着状况，多用于检察芯片封胶内的缺陷。
15 Mhz – DIP , PLCC , TO, QFP
25 Mhz – DIP , PLCC , TO, QFP
30 Mhz – BGA , SOP8 , QFP , SOT223 , TO252
35 Mhz – BGA , SOP8 , QFP , SOT223 , TO252
50 Mhz – QFN , TQFP, DFN, BGA
75 Mhz – TSSOP , Flash
100 Mhz – Wafer , Flip Chip
110 Mhz – Wafer , Flip Chip
120 Mhz – Wafer , Flip Chip , WLCSP
180 Mhz – Wafer , Flip Chip , WLCSP
230 Mhz – WLCSP , 3D IC
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